研究成就與看點:
本研究提出了一種創(chuàng)新的共沸物溶劑策略,用于大面積打印自組裝單分子層(SAM)作為有機太陽能電池(OSC)的空穴選擇層。通過使用IPA和甲苯的共沸混合溶劑,成功制備了高質(zhì)量、均勻且穩(wěn)定的Cbz-2Ph SAM,并有效地改善了ITO基板的功函數(shù)。
基于共沸物處理的SAM,采用全打印p-i-n堆棧結構制備的OSC器件,小面積(0.04 cm2)效率達到了18.89%,大面積(1.008 cm2)效率達到了17.76%,創(chuàng)造了目前1 cm2全打印OSC的高效率紀錄。
共沸物處理的SAM器件還表現(xiàn)出優(yōu)異的穩(wěn)定性,在長時間光照下T80壽命超過2000小時,遠優(yōu)于傳統(tǒng)PEDOT:PSS基器件(T80 = 169小時)。
研究團隊:
本研究由香港城市大學Gengxin Du等人完成,通訊作者為葉軒立教授、Alex K.-Y. Jen教授和Francis R. Lin教授。
研究背景:
有機太陽能電池(OSC)因其重量輕、可調(diào)節(jié)光學透明度、溶液可加工性和可持續(xù)生產(chǎn)的潛力而備受關注。近年來,材料設計、器件物理和界面工程的進步推動了單結OSC的功率轉換效率(PCE)突破了20%。
然而,OSC的規(guī)模化仍然是一個挑戰(zhàn),因為有機材料中載流子傳輸動力學的固有局限性以及大面積生產(chǎn)過程中薄膜中均勻性和缺陷密度的增加。
這些因素嚴重阻礙了大面積OSC的效率,從而阻礙了商業(yè)化進程。因此,開發(fā)能夠減少規(guī)?;瘬p耗并與未來的卷對卷生產(chǎn)兼容的大面積加工技術(≥1 cm2)的努力正在加強。
在傳統(tǒng)的p-i-n結構OSC中,空穴選擇層(HSL)在改變陽極功函數(shù)、促進空穴提取和模板化活性層形貌方面起著至關重要的作用。
然而,常用的HSL PEDOT:PSS存在一些缺點,包括非理想的能級、酸性、吸濕性和顯著的寄生吸收,所有這些都會損害器件的穩(wěn)定性和效率。
此外,PEDOT:PSS復合材料中的相分離會在器件加工和運行過程中產(chǎn)生針孔,導致電氣短路,這在大面積器件中是一個特別關鍵的問題。為了應對這些挑戰(zhàn),研究人員探索了使用自組裝單分子層(SAM)來替代PEDOT:PSS。
SAM在ITO基板上形成牢固的化學鍵,提供可調(diào)的能級、更高的光學透射率和增強的器件穩(wěn)定性。
盡管如此,SAM加工仍然存在多重挑戰(zhàn)。特別是,加工SAM分子(通常是兩親性的,并且在母液中形成膠束)仍然具有挑戰(zhàn)性,尤其是在粗糙的ITO表面上。
雖然已有報導將SAM用作HSL的OSC模塊,但在ITO上實現(xiàn)低缺陷密度通常表現(xiàn)出較差的再現(xiàn)性,并且需要動態(tài)加工技術(如旋涂),而這些技術難以應用于大型基板上。這些限制使得使用高質(zhì)量SAM HSL制造大面積OSC變得具挑戰(zhàn)性。
共SAM和共溶劑策略的新發(fā)展改善了鈣鈦礦太陽能電池的SAM質(zhì)量。共SAM策略引入了一種添加劑SAM來填充主體SAM中的空位,從而實現(xiàn)更密集的單層形成。
另一方面,共溶劑策略將少量高溶解度的N,N-二甲基甲酰胺(DMF)引入異丙醇(IPA)中,這有助于將SAM膠束分解成分散的分子,從而提供優(yōu)化且更可控的SAM沉積過程。
然而,共溶劑的表面張力和飽和蒸氣壓(參見支持信息(SI),表S1和S2)的差異會導致不穩(wěn)定性,這在大面積印刷中尤其成問題,因為長時間的處理時間會導致溶劑組成隨時間推移而發(fā)生偏差,這是由于溶劑的不同蒸發(fā)速率所致。
這種不穩(wěn)定性會加劇馬蘭戈尼流等問題,并阻礙均勻薄膜的形成。
此外,殘留的高沸點添加劑難以去除,并且可能會影響在其上加工的OSC活性層的形貌。
解決方案:
為了減輕混合溶劑復雜蒸發(fā)動力學在ITO基板上沉積高質(zhì)量SAM過程中產(chǎn)生的問題,本研究引入了一種共沸物策略,通過縫模涂布沉積高質(zhì)量的SAM。
共沸物在共沸點處保持固定溶劑組成的平衡。本研究采用了由甲苯(42 wt%)和IPA(58 wt%)組成的共沸物,實現(xiàn)了Cbz-2Ph SAM分子的更好分散性和SAM墨水的增強的貨架穩(wěn)定性。
共沸物處理的SAM在ITO基板上顯示出更高的覆蓋率,并與供體材料(PM6)實現(xiàn)了優(yōu)化的能量對準?;?/span>Cbz-2Ph的高質(zhì)量共沸物-SAM,研究人員打印了PM6:BTP-eC9體異質(zhì)結(BHJ)層和PNDIT-F3N電子選擇層(ESL),實現(xiàn)了18.89%的PCE,優(yōu)于基于IPA處理的SAM和旋涂PEDOT:PSS的器件。
此外,共沸物-SAM器件表現(xiàn)出更高的運行穩(wěn)定性,T80壽命超過2000小時。更令人鼓舞的是,在具有全打印p-i-n堆棧的大面積器件(1.008 cm2)上,研究人員實現(xiàn)了17.76%的PCE,這標志著所有功能層打印的1-cm2器件(不包括頂部/底部電極)的高效率。
這項研究不僅證明了基于SAM HSL的打印OSC的潛力,而且表明共沸物策略可能會改變大規(guī)模OSC制造。
實驗過程與步驟:
材料制備:所有試劑均按原樣使用,無需進一步純化。PM6和BTP-eC9購自Solarmer。異丙醇(IPA)、甲苯和氯苯(CB)購自Sigma-Aldrich。PNDIT-F3N購自eFlexPV Limited。
Cbz-2Ph SAM的合成:合成步驟詳見支持信息。
器件制備:在使用前,依次用稀釋的清潔劑溶液、去離子水、丙酮和異丙醇對ITO基板進行超聲波清洗,每個步驟20分鐘,然后在80°C的烘箱中干燥。
在使用前,用紫外臭氧處理基板20分鐘。將PEDOT:PSS旋涂在ITO基板上(對于0.04 cm2的器件,基板尺寸為15 mm × 15 mm;對于1 cm2的器件,基板尺寸為25 mm × 25 mm),并在空氣中于150°C退火10分鐘。
通過將SAM粉末溶解在IPA、甲苯或IPA和甲苯的共沸物(重量比為0.58:0.42)中,以1 mg/ml的濃度制備SAM溶液,并在使用前攪拌2小時。
在環(huán)境條件下,通過縫模涂布平臺打印所有層,并控制相對濕度(約為15%)。SAM的打印速度、涂布頭與基板之間的間隙、流速和基板溫度分別調(diào)整為25 mm/s、100 μm、5 μL/min和80°C。
在100°C退火10分鐘后,將基板轉移到手套箱中暫時存放。將PM6:BTP-eC9(1:1.2)或PM6:BTP-eC9:L8BO-2F(1:0.96:0.24)共混物溶解在氯苯中,縫模涂布的濃度為10 mg/ml,旋涂的濃度為22 mg/ml(不添加任何添加劑)。
將溶液在50°C攪拌至少1小時。縫模涂布活性層的打印速度、打印間隙、流速和基板溫度分別調(diào)整為50 mm/s、150 μm、10 μL/min和70°C。
對于旋涂活性層,旋轉速度為2500 rpm。涂布后,將活性層在100°C退火5分鐘。
將PNDIT-F3N溶解在甲醇中(含0.5 vt%的乙酸),旋涂的濃度為0.5 mg/ml,縫模涂布的濃度為3 mg/ml。
縫模涂布PNDIT-F3N的打印速度、打印間隙、流速和基板溫度分別調(diào)整為5 mm/s、100 μm、5 μL/min和室溫。
對于采用D18/BTP-eC9作為活性層的器件,將D18薄膜從氯苯中以2600 rpm的旋轉速度旋涂在SAM或PEDOT:PSS層上,然后將溶解在氯仿中的BTP-ec9以2000 rpm的旋轉速度旋涂在D18層上。
D18和BTP-eC9在溶劑中的濃度分別為6 mg/ml和10 mg/ml。D18溶液和BTP-eC9溶液的加熱溫度分別為80°C和45°C。
對于旋涂PNDIT-F3N,旋轉速度為2000 rpm。然后,將樣品轉移到蒸發(fā)室中沉積Ag(100 nm)。OSC的有效面積為0.04 cm2,由陽極和陰極的重疊面積定義。
對于J-V性能測量,使用精確面積為0.0324 cm2的測試掩模。
對于1 cm2的器件,縫模涂布平臺的涂布頭寬度調(diào)整為30 mm,而0.04 cm2的器件則為12 mm。
對于1 cm2的器件,采用寬度為9 mm(該值大于普通OPV或鈣鈦礦模塊中子電池的寬度,由于幾何填充因子和載流子傳輸之間的平衡,該值通常為5-7 mm)和長度為11.2 mm的掩模設計,以探索進一步放大工藝的可行性。
研究成果表征:
為了評估共沸物策略如何影響SAM的形成,研究人員使用縫模涂布平臺(SI,圖S5)將Cbz-2Ph SAM打印到ITO基板上。
通過在Cbz-2Ph SAM薄膜上滴水進行接觸角測量,用于評估薄膜質(zhì)量。 理想情況下,所有膦酸酯基團都應錨定在ITO表面,咔唑頭基朝外暴露,形成致密、疏水的表面。 如圖1d和1e所示,與IPA-SAM相比,共沸物-SAM表現(xiàn)出更大的接觸角,表明SAM的覆蓋更密集、更均勻。
電流-電壓(J-V)特性曲線數(shù)據(jù)與圖表解讀
文獻中提供了多個與電流-電壓(J-V)特性曲線相關的數(shù)據(jù)和圖表,以展示共沸物策略對有機太陽能電池(OSC)性能的影響。以下列出并解讀這些數(shù)據(jù)和圖表:
圖 3b:不同制備方法的器件 J-V 曲線
圖表描述: 此圖展示了三種不同器件的J-V曲線:基于共沸物處理的SAM(azeotrope-SAM)、基于IPA處理的SAM(IPA-SAM)以及基于旋涂PEDOT:PSS的器件。
解讀: 從圖中可以明顯看出,基于共沸物-SAM的器件表現(xiàn)出的光伏性能,其J-V曲線更加陡峭,開路電壓(Voc)更高,短路電流密度(Jsc)更大,填充因子(FF)也更高。 相比之下,基于IPA-SAM的器件性能較差,甚至不如基于PEDOT:PSS的器件。 這表明共沸物策略能夠有效提升OSC的整體性能。
圖 3d:不同制備方法的器件暗電流
圖表描述: 此圖比較了基于共沸物-SAM和IPA-SAM的器件在黑暗條件下的漏電流。
解讀: 基于共沸物-SAM的器件表現(xiàn)出更低的暗電流,這表明其具有更高的薄膜質(zhì)量,減少了缺陷和針孔,從而有效抑制了漏電流。 這進一步證明了共沸物策略在形成致密、均勻的SAM薄膜方面的優(yōu)勢。
圖 4a:大面積器件 J-V 曲線
圖表描述: 此圖展示了兩種大面積器件(1 cm2)的J-V曲線:一種是僅使用共沸物-SAM作為HSL的器件,另一種是所有功能層都通過狹縫涂布打印的器件(即全打印p-i-n堆棧)。
解讀: 令人印象深刻的是,全打印p-i-n堆棧器件的性能 (PCE = 17.76%) 甚至優(yōu)于僅使用共沸物-SAM作為HSL的器件 (PCE = 17.52%)。 這表明狹縫涂布技術在大面積器件制備中具有優(yōu)勢,能夠形成更加均勻的薄膜,從而減少因旋涂在大面積基板上產(chǎn)生的厚度不均勻性。
表 1 和表 2:不同制備方法的器件詳細光伏參數(shù)
表格描述: 表1列出了小面積器件(0.04 cm2)的詳細光伏參數(shù),包括Voc、Jsc、FF和PCE,并比較了不同HSL制備方法的差異。 表2則列出了大面積器件(1 cm2)的詳細光伏參數(shù),比較了僅使用共沸物-SAM作為HSL和全打印p-i-n堆棧器件的性能差異。
解讀: 從表1中可以看出,基于共沸物-SAM的器件在所有光伏參數(shù)上都優(yōu)于基于IPA-SAM和PEDOT:PSS的器件,這與圖3b的J-V曲線分析結果一致。 表2則進一步證明了全打印p-i-n堆棧器件在大面積OSC制備中的可行性,其性能甚至優(yōu)于僅使用共沸物-SAM作為HSL的器件。
圖 S17 和表 S6:采用 D18:BTP-eC9 作為活性層的器件性能
圖表描述: 圖 S17 展示了采用D18:BTP-eC9作為活性層的OSC在不同HSL制備方法下的J-V曲線。 表 S6 則列出了這些器件的詳細光伏參數(shù)。
解讀: 這些數(shù)據(jù)表明,共沸物策略不僅適用于PM6:BTP-eC9活性層,也適用于其他高性能活性層材料,例如D18:BTP-eC9。 這突顯了共沸物策略的廣泛適用性。
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外部量子效率 (EQE) 數(shù)據(jù)與圖表解讀
文獻中圖 3c 展示了基于共沸物處理的SAM (azeotrope-SAM) 和基于IPA處理的SAM (IPA-SAM) 的OSC的外部量子效率 (EQE) 曲線和積分電流線。
解讀:
從圖表中可以觀察到,基于共沸物-SAM的器件在500-800 nm波長范圍內(nèi)展現(xiàn)出更高的EQE值。
由于活性層在兩種器件中的吸收幾乎沒有差異(圖 S15),EQE的提升意味著使用共沸物-SAM修飾的ITO基板能夠更有效地提取電荷載流子,從而提升了器件的短路電流密度 (Jsc)。
**瞬態(tài)光電流測量結果(圖S16a)**進一步證實了這一點,基于共沸物-SAM的器件展現(xiàn)出更短的電荷提取時間,表明電荷載流子能夠更快地從活性層傳輸?shù)诫姌O。
此外,**瞬態(tài)光電壓測量結果(圖S16b)**顯示,基于共沸物-SAM的器件具有更長的載流子復合壽命,這意味著更少的電荷載流子在傳輸過程中發(fā)生復合損失,進一步提升了器件的性能。
其他表征:
原子力顯微鏡(AFM): AFM高度圖像顯示,共沸物-SAM樣品的表面更粗糙,均方根(RMS)粗糙度為2.42 nm,其形貌和RMS粗糙度與裸ITO樣品(SI,圖S9,RMS粗糙度= 2.69 nm)非常匹配,表明形成了單層共形涂層。 IPA-SAM樣品顯示出更光滑的表面,RMS粗糙度為1.79 nm,這可能是由于打印過程中預先聚集的Cbz-2Ph分子形成了多層膜。
開爾文探針力顯微鏡(KPFM): KPFM捕獲的表面電勢分布結果清楚地表明,在共沸物-SAM樣品中觀察到更均勻的表面電勢分布,而IPA-SAM顯示出相對不均勻的表面電勢分布,表明薄膜中Cbz-2Ph分子的排列更隨機。 相對于裸ITO(SI,圖S10),共沸物-SAM表現(xiàn)出更大的能量偏移,表明ITO功函數(shù)的修飾更有效。
紫外光電子能譜(UPS): UPS測量結果(圖2d、2e和圖S11(SI))支持了這一觀點,其中ITO/共沸物-SAM表現(xiàn)出更深的功函數(shù)-5.13 eV,并且最高占據(jù)分子軌道(HOMO,-5.48 eV)與PM6的電離勢很好地匹配, 有可能提高OSC的開路電壓(Voc)。
循環(huán)伏安法: 使用循環(huán)伏安法進一步量化了ITO上Cbz-2Ph的表面密度, 結果顯示共沸物-SAM的分子密度為8.51×10^13分子/cm2,比IPA-SAM(6.63×10^13分子/cm2)更密集。
X射線光電子能譜(XPS): XPS結果還顯示,共沸物-SAM的P/In元素比率更高(SI,圖S13和表S4), 表明當使用合適的溶劑打印時,Cbz-2Ph分子在ITO表面上的錨定更有效。 這些結果定性和定量地表明,共沸物策略可以促進在ITO上形成更致密的SAM,用于進一步的OSC制造。
器件性能表征:
研究制造了基于SAM的OSC,器件結構為ITO/Cbz-2Ph/PM6:BTP-eC9/PNDIT-F3N/Ag,有效面積為0.04 cm2,并比較了共沸物-SAM與IPA-SAM的表現(xiàn)?;诠卜形?/span>-SAM的OSC顯示出更窄的PCE分布,最高PCE達18.89%,顯著優(yōu)于IPA-SAM(17.12%)和PEDOT:PSS(17.86%)。其Voc(0.859 V)、Jsc(28.62 mA cm?2)和FF(76.83%)均優(yōu)于IPA-SAM(Voc為0.846 V、Jsc為27.86 mA cm?2、FF為72.64%)。
EQE測試表明,共沸物-SAM能提升500-800 nm范圍內(nèi)的載流子提取效率,并透過瞬態(tài)光電流與光電壓測量證實其電荷提取速度更快、復合更少。暗電流測量顯示共沸物-SAM減少了漏電流,提升器件穩(wěn)定性和一致性。
在批次測試中,共沸物-SAM的平均PCE達18.51 ± 0.18%,重現(xiàn)性明顯優(yōu)于IPA-SAM(16.70 ± 0.25%)。此外,D18:BTP-eC9的OSC在共沸物-SAM上表現(xiàn)出18.70%的平均PCE,進一步證實其適用性。
在大面積制造中,共沸物-SAM顯示出更高的FF(71.18%)及穩(wěn)定的PCE放大性能。面積達1.008 cm2的器件實現(xiàn)了PCE為17.76%,優(yōu)于旋涂技術?;诠卜形?/span>-SAM的器件在高溫與長時間照明下展現(xiàn)出T80壽命超過2000小時,遠高于PEDOT:PSS(169小時)。剝離測試表明其增強了HSL/BHJ界面的粘附力,有助于提升穩(wěn)定性及壽命。
深入研究共沸物策略和穩(wěn)定性
共沸物策略:
除了詳細介紹表征結果外,文獻還深入探討了采用共沸物策略的原因和優(yōu)點。由于SAM分子(如Cbz-2Ph)具有兩親性,這意味著它們具有親水和疏水部分,因此在溶劑中分散這些分子具有挑戰(zhàn)性。
單獨使用IPA會導致Cbz-2Ph形成膠束,而單獨使用甲苯會導致嚴重的聚集。
混合IPA和甲苯可以改善Cbz-2Ph的分散性,而共沸物比例(42 wt%甲苯和58 wt% IPA)則可以確保在溶液處理過程中溶劑成分保持恒定,從而形成均勻的SAM薄膜。
共沸物策略的另一個優(yōu)點是提升了SAM墨水的保存期限。儲存45天后,純IPA中的SAM會形成更大的聚集體,而在IPA:甲苯混合溶劑中的SAM則表現(xiàn)出良好的保存穩(wěn)定性。這對于大規(guī)模生產(chǎn)至關重要,因為它可以減少材料浪費并提高制造過程的可重復性。
穩(wěn)定性:
除了效率外,基于共沸物-SAM的OSC還表現(xiàn)出優(yōu)異的穩(wěn)定性。在模擬1太陽照明的加速老化測試中,共沸物-SAM器件的T80壽命超過2000小時,而基于PEDOT:PSS的器件僅為169小時。剝離測試表明,與ITO/PEDOT:PSS基板相比,從ITO/共沸物-SAM基板上剝離PM6薄膜所需的力或能量要高出一個數(shù)量級,這表明SAM與活性層之間具有更強的粘附力,從而提高了器件的穩(wěn)定性。
總結:
共沸物策略為大規(guī)模生產(chǎn)高效且穩(wěn)定的OSC提供了一種很有前景的方法。通過解決與SAM分子兩親性相關的挑戰(zhàn),該策略可以形成致密、均勻且穩(wěn)定的SAM薄膜,從而提高器件性能和壽命。
文獻參考自Energy & Environmental Science_DOI: 10.1039/D4EE04479G
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