當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 傳感器測試 > 圖像傳感器/顯示屏指紋 > SG-A光焱科技圖像傳感器測試儀
簡要描述:光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀是商用CMOS圖像傳感器測試儀,可以提供全面的CMOS圖像傳感器參數(shù)表征。被測設(shè)備可以是幾種類型的CMOS圖像傳感器模塊。檢驗程序符合EMVA 1288標準。因此,可用于進行晶圓級光學(xué)檢測、加工參數(shù)控制、微透鏡設(shè)計、微透鏡驗證。SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的高度準直光束(<1°)可以克服傳統(tǒng)光學(xué)系統(tǒng)(如積分球系統(tǒng))無法解決的新制造工藝的檢測困難。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | Enlitech | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
---|---|---|---|
全光譜的波長范圍 | 300-1100nm或350-1000nm(PTC) | 動態(tài)范圍 | 80dB、100dB或140dB |
產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
測量模式 | 咨詢光焱科技專家 |
*無損光學(xué)檢測。
*高度準直梁角 /高準直波束角<0.05度 ,<0.1度 <0.5度 ,<1度,<3度 (不同型號)
*高均勻光束點:≥ 99%。
*光的不穩(wěn)定性≤1%。
*高動態(tài)范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。
*可以測試CMOS圖像傳感器參數(shù)。量子效率、光譜響應(yīng)、系統(tǒng)增益、靈敏度、動態(tài)范圍、暗電流/噪聲、信噪比、飽和容量、線性誤差(LE)、DCNU(暗電流不均勻性)、PRNU(光響應(yīng)不均勻性)、CRA。
*全光譜波長范圍:300nm-1100nm或350nm~1000nm(PTC)。
*波長可擴展至1700納米以上。
*DUT 封裝:CIS 模塊,PCB 板級,CIS 攝像頭,有/無微透鏡。
*SG-A和DUT之間的 “直接 “或 “握手 “通信協(xié)議。
*定制的測試夾具和平臺(手動或自動,最多6軸)。
*功能完整的分析軟件ARGUS®。
*應(yīng)用:指紋識別(CIS+鏡頭,CIS+準直器,TFT陣列傳感器)CIS的微透鏡設(shè)計,晶圓級光學(xué)檢測,CIS DSP芯片算法開發(fā),Si TFT傳感器面板,飛行時間相機傳感器,接近傳感器(量子效率,靈敏度,線性度,SNR等),d-ToF傳感器,i-ToF傳感器,多光譜傳感器,環(huán)境光傳感器(ALS),指紋顯示(FoD)傳感器。
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀的功能很好,因此相關(guān)的規(guī)格和配件也很齊全。更多細節(jié)可再了解。
以下是主要的能力規(guī)格:
– 全光譜的波長范圍:300-1100nm或350-1000nm(PTC)
– 波長范圍可以擴展到1700 nm或更高
– 單一波長源:470nm、530nm、630nm、940nm(±5nm),或自定義
– 動態(tài)范圍:80dB、100dB或140dB
– 測試夾具:DUT≤100mm x 100mm x 30mm(高度)[基本型]或定制
– 平臺:非、手動3軸,或6軸(手動+自動)平臺(可定制)
光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:
*指紋識別(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)
*CIS的微透鏡設(shè)計,晶圓級光學(xué)檢查
*CIS DSP 芯片的算法開發(fā)
*Si TFT 傳感器面板
*飛行時間相機傳感器
*近距離感應(yīng)器 (量子效率、靈敏度、線性度、SNR等。)
*d-ToF傳感器、i-ToF傳感器
*多光譜傳感器
*環(huán)境光傳感器 (ALS)
*指紋顯示(FoD)傳感器
產(chǎn)品咨詢